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        新聞活動

        詳解半自動探針臺的技術指標及功能返回列表

        半自動探針臺技術指標支持4,5,6寸wafer 分辨率0 25um 提供4個SMU接口,可同時輸出(測量)四路直流信號。 每個SMU最大輸出電壓100V(-100

        半自動探針臺技術指標

        支持4,5,6寸wafer 分辨率0.25um 提供4個SMU接口,可同時輸出(測量)四路直流信號。 每個SMU最大輸出電壓100V(-100V),最大輸出電流1A 測量功率100V*10mA。 開路漏電流20fA。

        半自動探針臺主要功能

        通過和外接的測試儀器4156C以及溫度控制設備TP03000A的連接,組成一個測試平臺,完成對器件封裝前的電性能測試(電阻,C/V,擊穿特性等)。

        查看更多探針臺系統

            英鉑科學儀器(上海)有限公司是一家專注于半導體晶圓級測試系統、微納米科學等領域提供綜合性解決方案的企業,為全國各大高校、科研院所及企事業單位提供先進的半導體測試系統及微納米科學儀器設備,助祖國半導體科學事業的騰飛貢獻一份綿薄之力!

              目前公司已成為國內少數幾家專業提供半導體晶圓級測試系統、微納米加工等科學儀器的企業。在半導體晶圓級測試系統方案、微納加工設備,微納表征設備,微納領域耗材,微納加工及測試,微納周邊產品等相關領域,擁有一支經驗豐富、技術過硬的團隊。能夠出色地完成售前、售中、售后的全方位服務??偛课挥谏虾?,并在北京、深圳成立了辦事處,于武漢、西安、成都、合肥、沈陽等地成立了5個售后服務網點。

              未來公司將不斷推薦和引進在微納米科學領域中起重要作用的新儀器和新產品,同時也與全國各所著名的大學、學院和科研院所建立了良好的合作關系,致力于把具有市場前景的科研成果推向市場。

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